探針臺(tái)
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特點(diǎn)/應(yīng)用
◆CSA-8型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試,操作簡(jiǎn)單,快捷,
◆測(cè)試精度高,具有MAP顯示功能。
◆它與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試
技術(shù)指標(biāo)
? 8英寸半自動(dòng)探針臺(tái),手動(dòng)上片,自動(dòng)測(cè)試
? 總重約 800千克
? 外形尺寸: 1200mm×1000mm×1600mm(長(zhǎng)×寬×高 )
? 臺(tái)體采用微腔結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),有效降低電磁干擾,光干擾對(duì)測(cè)試的影響;可兼容高低溫測(cè)試
? X-Y軸采用先進(jìn)的直線電機(jī)驅(qū)動(dòng),行程:250mm*350mm,X-Y軸移動(dòng)分辨率:0.1μm,X-Y軸重定位精度:≤±1μm,X-Y移動(dòng)速度:≥80mm/sec
? Z軸采用高精度4導(dǎo)軌結(jié)構(gòu),有效保證負(fù)載和垂直度,行程:20mm,Z軸移動(dòng)分辨率:0.1um,Z軸重定位精度:≤±1μm,Z軸移動(dòng)速度:≥20mm/sec
? Theta軸采用高精度DD馬達(dá),角度行程:±10°,Theta角度分辨率:0.00018°
? 系統(tǒng)采用雙相機(jī)對(duì)位和成像
? 兼容針卡和探針座
? 掃描對(duì)準(zhǔn)時(shí)間:≤20S
? 樣品固定方式:多孔真空吸附,分區(qū)獨(dú)立控制,可吸附4、6、8英寸晶圓
? 空氣薄膜減震系統(tǒng),有效隔絕外界抖動(dòng)
? 自動(dòng)測(cè)量Die size及生成map圖
? 可測(cè)試圓片,測(cè)試范圍可選,任意wafer map 編輯
? CCD自動(dòng)掃描對(duì)準(zhǔn)功能
? 自動(dòng)MARK點(diǎn),(0,0)點(diǎn)定位功能,一鍵可完成測(cè)試
? 自動(dòng)抽測(cè)功能,可支持單點(diǎn)或連續(xù)測(cè)試
? 具備接觸緩沖功能,針痕穩(wěn)定
? 具備離線打點(diǎn)、脫機(jī)打點(diǎn)功能
? 支持壞點(diǎn)重測(cè)
? 良品、不良品、合格率、測(cè)試速率顯示
? 通訊接口:R232/485/TCP/IP/GPIB
? 操作界面:Windows中文操作界面,中文MAPING動(dòng)態(tài)顯示
訂購(gòu):半自動(dòng)探針臺(tái)CSA-8