探針臺(tái)
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雙面探針臺(tái)CH-8-D
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產(chǎn)品詳情
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特點(diǎn)/應(yīng)用
◆CINDBEST CH-8-D 雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，
◆用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。
◆該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能。
◆可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽(yáng)能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域
技術(shù)指標(biāo)
? 8"卡盤(pán)，采用中心吸附孔和4圈吸附環(huán)固定樣品，分別由4個(gè)開(kāi)關(guān)獨(dú)立控制
? 卡盤(pán)臺(tái)X/Y方向的行程是:8英寸*8英寸,精度:10micron，均帶鎖死旋鈕
? 卡盤(pán)可以360度旋轉(zhuǎn)，細(xì)調(diào)精度不大于0.1度，帶有鎖定旋鈕
? XY平臺(tái)帶氣浮型快移功能，可快速定位
? 雙層針座平臺(tái)，支持雙面點(diǎn)針測(cè)試
? 雙顯微鏡結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，支持芯片背面顯微鏡放大及定位
? 上針座平臺(tái)一鍵升降功能，常規(guī)探針臺(tái)和雙面探針臺(tái)一鍵切換
訂購(gòu)：雙面探針臺(tái)CH-8-D
